可测试性技术（DesignForTestability-DFT）就是试图增加电路中信号的可控制性和可观测性，以便及时经济地测试芯片是否存在物理缺陷，使用户拿到良好的芯片。

其中包括AdHoc技术和结构化设计技术。目前，任何高IC设计系统都采用结构化设计技术