本科微电子实验通常包括以下几类：

半导体材料特性与微电子技术工艺参数测试分析

四探针法测量半导体电阻率

半导体霍尔效应实验

光电导衰退法测量单晶硅非平衡少数载流子寿命

用椭圆偏振仪测量薄膜厚度

P-N结的显示与结深的测量

MOS结构高频C-V特性测试（演示）

半导体器件性能参数测试

用图示仪测量双极性晶体管的交、直流参数

场效应晶体管参数测量

晶体管特征频率的测量

晶闸管阻断特性与触发特性的测量